鍍鎳鍍錫測厚儀采用非破壞式的X射線熒光光譜分析法（XRF）。儀器由主機、測試頭、計算機等部分組成，可用于測量金屬表面的厚度、含量以及各種化學(xué)元素的含量。它可以快速、準確地測量各種金屬鍍層和基材之間的界面，以及不同金屬之間的中間層的密度。測量精度高，不影響被測物體的結(jié)構(gòu)完整性和功能，被廣泛應(yīng)用在金屬材料加工行業(yè)的質(zhì)量控制領(lǐng)域。
鍍鎳鍍錫測厚儀使用流程：
1.準備工作
a.確定被測試材料及其表面處理材料的物理性質(zhì)；
b.確保被測試板塊表面清潔無塵；
c.插上電源，打開電源開關(guān)，等待設(shè)備自檢完成。
2.測量操作
a.處理被測試板塊上鍍液的位置，確保測量頭與被測試部位接觸；
b.選擇需要測量的金屬元素種類（例如鎳、錫等）；
c.將充電電源接頭固定在金屬板上，保持穩(wěn)定，避免因移動而導(dǎo)致測量數(shù)據(jù)不準；
d.點擊“開始測量”按鈕，待測試結(jié)果呈現(xiàn)。
鍍鎳鍍錫測厚儀安全操作注意事項：
1.鍍層厚度盡量大于10微米，且在保證測量精度的基礎(chǔ)上，盡量保證測量點的數(shù)目越多，測試結(jié)果才會更加準確；
2.嚴格遵守安全操作規(guī)程，保證人員和設(shè)備的安全；
3.每日操作前，要檢查設(shè)備及其連接線路是否正常，減少故障狀況出現(xiàn)的概率；
4.在使用時，要隨時觀察并記錄測量數(shù)據(jù)，及時進行數(shù)據(jù)分析和處理。
總之，該儀器在現(xiàn)代化生產(chǎn)中的應(yīng)用越來越廣泛，它可以更加準確、迅速地進行不同材料之間的測量，降低不必要的測量成本和操作時間，提高了現(xiàn)代化生產(chǎn)模式的效率和質(zhì)量，是*一種高精度、高質(zhì)量的現(xiàn)代化測量設(shè)備。
