更新時(shí)間:2024-11-02
微先鋒X-RAY膜厚儀XRF-2020可測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度;可通過CCD來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行鍍層厚度的測(cè)量避免直接接觸或破壞被測(cè)物測(cè)試單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層厚度
微先鋒X-RAY膜厚儀XRF-2020
特征:
可測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度;
可通過CCD來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行鍍層厚度的測(cè)量
避免直接接觸或破壞被測(cè)物
全自動(dòng)臺(tái)面及自動(dòng)對(duì)焦更能準(zhǔn)確測(cè)量產(chǎn)品位置
適應(yīng)于各類五金電鍍,電子連接器端子等。
可測(cè)金,鎳,銅,鋅,錫,銀,鋅鎳合金等鍍層。
可測(cè)試單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層厚度
應(yīng)用廣泛,適應(yīng)電鍍生產(chǎn)企業(yè),產(chǎn)品來料檢測(cè)等。
MicropXRF-2020鍍層測(cè)厚儀
產(chǎn)地:韓國
品牌:Micropioneer微先鋒
型號(hào):XRF-2020H,XRF-2020L
XRF-2020L型:測(cè)量樣品長寬55cm,高3cm:臺(tái)面載重3kg
XRF-2020H型 測(cè)量樣品長寬55cm,高12cm:臺(tái)載重5kg
微先鋒X-RAY膜厚儀XRF-2020
測(cè)試單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層厚度
選擇任意的微小面積以進(jìn)行鍍層厚度的無損測(cè)試
避免直接接觸或破壞被測(cè)物
三臺(tái)機(jī)型均為全自動(dòng)臺(tái)面,自動(dòng)雷射對(duì)焦
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