更新時間:2024-11-03
韓國微先鋒MicropioneerXRF-2000測厚儀標準片可應(yīng)用各種X射線測厚儀品牌用于校正測厚儀標準及添加應(yīng)用程序X-RAY膜厚儀標準片XRF-2020測厚儀校正片
X-RAY膜厚儀標準片XRF-2020測厚儀校正片
通用型
標準片可應(yīng)用各種X射線測厚儀品牌
用于校正鍍層測厚儀標準曲線及添加應(yīng)用程序
韓國XRF-2000測厚儀標準片:
銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/鋅鎳合金等
標準片可訂制,均附帶標準證書
電鍍測厚儀標準片膜厚儀校正片
標準片是X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。是膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系,來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
電鍍測厚儀標準片膜厚儀校正片銅,鎳,鉻,鋅,金,銀,錫,鋅鎳,鈀各種厚度及規(guī)格均可訂制,校準片均附帶證書
通用型X-RAY膜厚儀標準片XRF-2020測厚儀校正片
深圳市精誠儀器儀表有限公司
地址:深圳市龍崗區(qū)坂田五和大道北元征科技園C218
©2024 公司版權(quán)所有: 備案號:粵ICP備2023129990號 總訪問量:104904 站點地圖 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸