更新時間:2024-11-04
X-RAY膜厚測量儀XRF-2000L韓國測厚儀1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材!1. 鍍層元素范圍:鈦~鈾,包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、金,鉻,鋅鎳合金等。2. 鍍層層數(shù):可測5層。3. 測量產(chǎn)品位置尺寸:標(biāo)準(zhǔn)配備0.2mm準(zhǔn)直器,測量產(chǎn)品大于0.4mm(可訂制更小準(zhǔn)直器)4. 測量時間:通常15秒。
鍍層膜厚測量儀(XRF-2020韓國Micropioneer)
儀器功能及應(yīng)用:
測量各類五金,電子連接器端子半導(dǎo)體等電鍍層厚度。
可測金,鎳,銅,鋅,錫,銀,鉻,銠,鉑,鋅鎳合金等鍍層。
可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層等。
適應(yīng)電鍍加工廠,成品來料檢測半導(dǎo)體五金電鍍等相關(guān)行業(yè)。
特點:
一. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材!
二. 鍍層元素范圍:鈦~鈾,包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、金,鉻,鋅鎳合金等。
三. 鍍層層數(shù):可測5層。
四. 測量產(chǎn)品位置尺寸:標(biāo)準(zhǔn)配備0.2mm準(zhǔn)直器,測量產(chǎn)品大于0.4mm(可訂制更小準(zhǔn)直器)
五. 測量時間:通常15秒。
X-RAY膜厚測量儀XRF-2000L韓國測厚儀
全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量
儀器全系均為全自動臺,自動雷射對焦!
多點自動測量
可配多個或單個準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動切換
韓國MicroP XRF-2020膜厚儀
功能應(yīng)用:
檢測電子電鍍,五金電鍍,PCB板,LED支架半導(dǎo)體連接器等電鍍層厚度。
測量鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳,鍍鋅鎳合金等
可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量,不限底料
電鍍測厚儀深圳韓國XRF-2020膜厚儀
可測單鍍層,雙多鍍層,多鍍層及合金鍍層
鍍銀測量范圍0.1-50um
鍍鎳測量范圍0.5-30um
鍍銅測量范圍0.5-30um
鍍錫測量范圍0.5-50um
鍍金測量范圍0.02-6um
鍍鋅測量范圍1-30um
鋅鎳合金測量范圍1-25um
鍍鉻測量范圍0.5-25um
韓國XRF-2020功能及特點
儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量
多個準(zhǔn)直器可選擇:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
可配多個或單個準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動切換
X-RAY膜厚測量儀XRF-2000L韓國測厚儀:快速無損測量電鍍層厚度
適合電鍍加行業(yè),成品來料檢測等
韓國Micropioneer XRF-2000系列型號均已升級為XRF-2020系列
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