更新時(shí)間:2024-11-05
韓國(guó)微先鋒MicroPX射線鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片XRF-2020校正片可應(yīng)用各種X射線測(cè)厚儀品牌用于校正測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)及添加應(yīng)用程序XRF-2020測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)校正片X-RAY標(biāo)準(zhǔn)片
XRF-2020測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)校正片X-RAY標(biāo)準(zhǔn)片
標(biāo)準(zhǔn)片
可應(yīng)用各種X射線測(cè)厚儀品牌
用于校正鍍層測(cè)厚儀
標(biāo)準(zhǔn)曲線及添加應(yīng)用程序
韓國(guó)XRF-2000測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片:
銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/鋅鎳合金等
標(biāo)準(zhǔn)片可訂制,均附帶標(biāo)準(zhǔn)證書(shū)
XRF-2020測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片電鍍膜厚儀校正片
標(biāo)準(zhǔn)片是X射線測(cè)厚儀在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)試檔案。
是膜厚測(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法,是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系,來(lái)得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。
以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來(lái)測(cè)量鍍層樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對(duì)于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測(cè)厚儀來(lái)檢測(cè)品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
X-RAY膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片校正片XRF-2020標(biāo)準(zhǔn)件
銅,鎳,鉻,鋅,金,銀,錫,鋅鎳,鈀各種厚度及規(guī)格均可訂制
校準(zhǔn)片均附帶證書(shū)
XRF-2020測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)校正片X-RAY標(biāo)準(zhǔn)片
韓國(guó)Micropioneer測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)件
通用型:適合不同品牌鍍層測(cè)厚儀校正及測(cè)量
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