更新時間:2024-11-22
韓國微先鋒MicroPX射線鍍層測厚儀標準片XRF-2020校正片可應用各種X射線測厚儀品牌用于校正測厚儀標準及添加應用程序XRF-2020膜厚儀標準片鍍層測厚儀校準片
XRF-2020膜厚儀標準片鍍層測厚儀校準片
標準片
可應用各種X射線測厚儀品牌
用于校正鍍層測厚儀
標準曲線及添加應用程序
韓國XRF-2000測厚儀標準片:
銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/鋅鎳合金等
標準片可訂制,均附帶標準證書
XRF-2020測厚儀標準片電鍍膜厚儀校正片
標準片是X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。
是膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。
以此標準曲線來測量鍍層樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
X-RAY膜厚儀標準片校正片XRF-2020標準件
銅,鎳,鉻,鋅,金,銀,錫,鋅鎳,鈀各種厚度及規(guī)格均可訂制
校準片均附帶證書
XRF-2020膜厚儀標準片鍍層測厚儀校準片
韓國Micropioneer測厚儀標準件
通用型:適合不同品牌鍍層測厚儀校正及測量
深圳市精誠儀器儀表有限公司
地址:深圳市龍崗區(qū)坂田五和大道北元征科技園C218
©2024 公司版權所有: 備案號:粵ICP備2023129990號 總訪問量:104904 站點地圖 技術支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸